А 92 Атомная физика [Текст] : теоретические основы и лабораторный практикум : учебное пособие для высших учебных заведений / В. Е. Граков, С. А. Маскевич, А. А. Сокольский [и др.] ; под научной редакцией А. П. Клищенко. - Москва : ИНФРА-М ; Минск : Новое знание, 2011. - 332, [1] с. : ил. ; 22. - (Высшее образование). - Библиогр.: с. 323-324. - 800 экз.. - ISBN 978-985-475-384-3 (Новое знание) (в пер.). - ISBN 978-5-16-004688-4 (ИНФРА-М) : 90.00 р. Рубрики: Ядерная физика--Физика атомного ядра--Учебные издания для высших учебных заведений Кл.слова (ненормированные): АТОМ РЕЗЕРФОРД-БОРА -- АТОМНЫЕ СПЕКТРЫ -- АТОМНЫЕ ЯВЛЕНИЯ -- ВОЛНЫ ДЕ бРОЙЛЯ -- ДИФРАКЦИЯ ЭЛЕКТРОНОВ -- ИОНИЗАЦИЯ АТОМОВ РТУТИ -- КВАНТОВАЯ ТЕОРИЯ -- КВАНТОВЫЕ СВОЙСТВА МОЛЕКУЛ -- КВАНТЫ -- КРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ СТРУКТУРЫ -- ЛАБОРАТОРНЫЕ РАБОТЫ -- РЕНТГЕНОВСКИЕ СПЕКТРЫ -- РЕНТГЕНОВСКОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ -- СЛАБЫЕ ПОЛЯ -- УРАВНЕНИЕ ШРЕДИНГЕРА -- УЧЕБНЫЕ ПОСОБИЯ ДЛЯ ВУЗОВ -- ЭФФЕКТ РАМЗАУЭРА -- ЯДЕРНЫЙ МАГНИТНЫЙ РЕЗОНАНС Аннотация: Даны теоретические основы атомной физики и лабораторные работы. Доп.точки доступа: Граков, В. Е.; Маскевич, С. А.; Сокольский, А. А.; Стельмах, Г. Ф.; Стрекаль, Н. Д.; Клищенко, А. П. \ред.\ Экземпляры всего: 1 Ф04АБ (1) - Абонемент библ. им. А. Ахматовой 341-43-77 ул.Филатова,9 Свободны: Ф04АБ (1) |
Б 87 Брандон, Д. Микроструктура материалов [Текст] : методы исследования и контроля : [учебное пособие для вузов] / Д. Брандон, У. Каплан ; перевод с английского под редакцией С. Л. Баженова, с дополнением В. О. Егоровой. - Москва : Техносфера, 2006. - 377 с. : рис. ; 24. - (Мир материалов и технологий ; VI, 02). - Библиогр. в конце гл. - Пер. изд. : Microstructural Characterization of Materials / D. Brandon., W. D. Kaplan. - Chichester [et al.], 1999. - 2000 экз.. - ISBN 0-471-98501-5 (в пер.) : 200.00 р. Рубрики: Материалы--Микроструктура--Исследования--Учебно-методические пособия Кл.слова (ненормированные): КРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ СТРУКТУРЫ -- ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ХИМИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ ПОВЕРХНОСТЕЙ -- КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛИЗ МИКРОСТРУКТУРЫ -- МИКРОСТРУКТУРА МАТЕРИАЛОВ Аннотация: Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Доп.точки доступа: Каплан, У.; Баженов, С. Л. \пер., ред.\; Егорова, О. \пер.\; Brandon., D. ; Kaplan, W. D. Экземпляры всего: 1 ЦРБ АБ (1) - Абонемент ЦРБ им. П.П. Бажова 346-51-14 ул.Новогодняя,11 Свободны: ЦРБ АБ (1) |