Б 87 Брандон, Д. Микроструктура материалов [Текст] : методы исследования и контроля : [учебное пособие для вузов] / Д. Брандон, У. Каплан ; перевод с английского под редакцией С. Л. Баженова, с дополнением В. О. Егоровой. - Москва : Техносфера, 2006. - 377 с. : рис. ; 24. - (Мир материалов и технологий ; VI, 02). - Библиогр. в конце гл. - Пер. изд. : Microstructural Characterization of Materials / D. Brandon., W. D. Kaplan. - Chichester [et al.], 1999. - 2000 экз.. - ISBN 0-471-98501-5 (в пер.) : 200.00 р. Рубрики: Материалы--Микроструктура--Исследования--Учебно-методические пособия Кл.слова (ненормированные): КРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ СТРУКТУРЫ -- ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ХИМИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ ПОВЕРХНОСТЕЙ -- КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛИЗ МИКРОСТРУКТУРЫ -- МИКРОСТРУКТУРА МАТЕРИАЛОВ Аннотация: Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Доп.точки доступа: Каплан, У.; Баженов, С. Л. \пер., ред.\; Егорова, О. \пер.\; Brandon., D. ; Kaplan, W. D. Экземпляры всего: 1 ЦРБ АБ (1) - Абонемент ЦРБ им. П.П. Бажова 346-51-14 ул.Новогодняя,11 Свободны: ЦРБ АБ (1) |